Authors: Moreira, Murilo, Hillenkamp, Matthias, Divitini, Giorgio, Tizei, Luiz, H G, Ducati, Caterina, Cotta, Monica, Rodrigues, Varlei, Ugarte, Daniel
Contributors: Instituto de Fisica 'Gleb Wataghin' (IFGW), Universidade Estadual de Campinas = University of Campinas (UNICAMP), Agrégats et nanostructures (AGNANO), Institut Lumière Matière Villeurbanne (ILM), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Department of Materials Science and Metallurgy Cambridge University (DMSM), University of Cambridge UK (CAM), Laboratoire de Physique des Solides (LPS), Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 1431-9276.
Subject Terms: denoising, energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), nanoparticles, principal components analysis (PCA), quantitative chemical analysis, [SPI]Engineering Sciences [physics], [CHIM]Chemical Sciences, [PHYS]Physics [physics]
Relation: hal-03519186; https://hal.science/hal-03519186; https://hal.science/hal-03519186/document; https://hal.science/hal-03519186/file/MAM-21-338.R1_Proof_hi_sentversion_oct2021.pdf
Authors: Moreira, Murilo, Hillenkamp, Matthias, Divitini, Giorgio, Tizei, Luiz, H G, Ducati, Caterina, Cotta, Monica, Rodrigues, Varlei, Ugarte, Daniel
Contributors: Instituto de Fisica 'Gleb Wataghin' (IFGW), Universidade Estadual de Campinas = University of Campinas (UNICAMP), Agrégats et nanostructures (AGNANO), Institut Lumière Matière Villeurbanne (ILM), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Department of Materials Science and Metallurgy Cambridge University (DMSM), University of Cambridge UK (CAM), Laboratoire de Physique des Solides (LPS), Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 1431-9276.
Subject Terms: Nanoparticles, Machine Learning, denoising, Principal Components Analysis-PCA, quantitative chemical analysis, Transmission Electron Microscopy-TEM, Energy dispersive X-ray Spectroscopy-EDS, [CHIM.ANAL]Chemical Sciences/Analytical chemistry, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry
Relation: hal-03654918; https://hal.science/hal-03654918; https://hal.science/hal-03654918/document; https://hal.science/hal-03654918/file/MAM-21-338.R1_Proof_hi_sentversion_oct2021.pdf
Contributors: Laboratoire d'automatique et de génie des procédés (LAGEP), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie, Catalyse, Polymères et Procédés, R 5265 (C2P2), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ANR-12-JS09-0007,PickEP,Modélisation des procédés de polymérisation en émulsion stabilisés par des particules inorganiques (stabilisation Pickering)(2012)
Superior Title: ISSN: 0743-7463.
Subject Terms: Laponite® clay platelets, multilayer adsorption, Pickering surfactant-free emulsion polymerization, QCM-D, TEM, energy-dispersive X-ray spectroscopy, conductivity, inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy, [CHIM.POLY]Chemical Sciences/Polymers
Relation: hal-01859561; https://hal.science/hal-01859561; https://hal.science/hal-01859561/document; https://hal.science/hal-01859561/file/Brunier%20et%20al.%20revised.pdf
Authors: Sorel, Julien
Contributors: Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Lyon, Thierry Epicier
Superior Title: https://theses.hal.science/tel-03127324 ; Electronique. Université de Lyon, 2020. Français. ⟨NNT : 2020LYSEI078⟩.
Subject Terms: Micro Electronics, Electronic Tomography, STEM - Scanning transmission electron microscopy, EDX - Energy Dispersive X ray Spectroscopy, Data processing, Mano Electronic Device, SemiConductors, Transistor, Automatic data processing, 3D Reconstruction, Microélectronique, Tomographie électronique, Stem, Edx, Traitement des données, Dispositifs nanoélectroniques, Semi-Conducteurs, Traitement automatique des données, Reconstruction 3D, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: NNT: 2020LYSEI078; tel-03127324; https://theses.hal.science/tel-03127324; https://theses.hal.science/tel-03127324/document; https://theses.hal.science/tel-03127324/file/these.pdf
Availability:
https://theses.hal.science/tel-03127324
https://theses.hal.science/tel-03127324/document
https://theses.hal.science/tel-03127324/file/these.pdf
Authors: Choleridis, Antonios, Sao-Joao, Sergio, Ben-Mohamed, Jihane, Chern, David, Barnier, Vincent, Kermouche, Guillaume, Heau, Christophe, Leroy, Marie-Alix, Fontaine, Julien, Descartes, Sylvie, Donnet, Christophe, Klöcker, Helmut
Contributors: Laboratoire Georges Friedel (LGF-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IREIS, Group HEF, Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Mécanique des Contacts et des Structures Villeurbanne (LaMCoS), Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Hubert Curien (LHC), Institut d'Optique Graduate School (IOGS)-Université Jean Monnet - Saint-Étienne (UJM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 0257-8972.
Subject Terms: Wear, In situ, Delamination, Diamond-Like Carbon coating, Experimental characterization, Focused ion beam, Atomic force microscopy, Energy-dispersive X-ray spectroscopy, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: hal-01862173; https://hal.science/hal-01862173
Authors: Ben Mansour, H., Dhouibi, L., Idrissi, H.
Contributors: Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Mécanique Appliquée et Ingénierie Tunis (LR-MAI-ENIT), Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tunis (ENIT), Université de Tunis El Manar (UTM)-Université de Tunis El Manar (UTM)
Superior Title: ISSN: 0950-0618 ; Construction and Building Materials ; https://hal.science/hal-01916268 ; Construction and Building Materials, 2018, 171, pp.250-260. ⟨10.1016/j.conbuildmat.2018.03.118⟩.
Subject Terms: Electrochemical techniques, Energy dispersive X ray spectroscopy, Phosphate based inhibitors, Prestressing tendon, Protection mechanisms, Simulated concrete pore solution, Acoustic emission testing, Acoustic emissions, Anodic protection, Chlorine compounds, Corrosion inhibitors, Energy dispersive spectroscopy, Prestressed concrete, Prestressing, Steel corrosion, Wire, Aggressive environment, Chloride-contaminated concretes, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: hal-01916268; https://hal.science/hal-01916268
Authors: de Feo, M., De Barros Bouchet, Maria-Isabel, Minfray, C., Esnouf, C., Le Mogne, T., Meunier, Frédéric, Yang, L., Thiebaut, B., Pavan, S., Martin, J.M.
Contributors: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IRCELYON-Ingéniérie, du matériau au réacteur (ING), Institut de recherches sur la catalyse et l'environnement de Lyon (IRCELYON), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratory of Natural Products Pesticides, College of Plant Protection, Southwest Forestry University (SWFU), Total, Laboratoire d'automatique et de génie des procédés (LAGEP), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 0043-1648 ; Wear ; https://hal.science/hal-01804244 ; Wear, 2017, 370-371, pp.17-28. ⟨10.1016/j.wear.2016.10.002⟩.
Subject Terms: Additives, Amorphous silicon, Carbides, Carbon, Coatings, Energy dispersive spectroscopy, Friction, High resolution transmission electron microscopy, Lubrication, Transmission electron microscopy, Tribology, Wear of materials, X ray spectroscopy, Boundary lubrication conditions, DLC coatings, Energy dispersive X ray spectroscopy, Friction and wear performance, Friction modifier additives, Molybdenum dithio carbamates, Tribological experiments, Wear mechanisms, X ray photoelectron spectroscopy, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: hal-01804244; https://hal.science/hal-01804244
Authors: Hostaša, J., Esposito, L., Malchere, Annie, Epicier, T., Pirri, A., Vannini, M., Toci, G., Cavalli, E., Yoshikawa, A., Guzik, M., Alombert-Goget, G., Guyot, Yannick, Boulon, Georges
Contributors: Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Lumière Matière Villeurbanne (ILM), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 0884-2914.
Subject Terms: High-vacuum conditions, Pumping (laser), Ions, Erbium, Spectroscopic property, Yttrium aluminum garnet, Microstructural analysis, Ceramic materials, Sintering, Solid state lasers, Spectroscopic analysis, Transmission electron microscopy, X ray spectroscopy, Ytterbium, Absorption and emission spectra, Absorption cross sections, Diode pumped solid state laser, Energy dispersive x-ray spectroscopy, Doping (additives), Energy dispersive spectroscopy, Emission spectroscopy, Single crystals, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: hal-01808034; https://hal.science/hal-01808034
Authors: Apreutesei, M., Steyer, Philippe, Joly-Pottuz, L., Billard, Alain, Qiao, J., Cardinal, Sandrine, Sanchette, Frédéric, Pelletier, Jean-Marc, Esnouf, C.
Contributors: Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée (LASMIS), Institut Charles Delaunay (ICD), Université de Technologie de Troyes (UTT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Technologie de Troyes (UTT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Superior Title: ISSN: 0040-6090 ; Thin Solid Films ; https://hal.science/hal-01808066 ; Thin Solid Films, 2014, 561, pp.53-59. ⟨10.1016/j.tsf.2013.05.177⟩.
Subject Terms: X ray spectroscopy, X ray diffraction analysis, Transmission electron microscopy, Thermodynamic stability, Physical vapor deposition, Microstructure, Metallic glass, Mechanical properties, Scanning and transmission electron microscopy, Physicochemical property, Corrosion resistance, Differential scanning calorimetry, Glass, Magnetron sputtering, Magnetrons, Thin film metallic glass, Copper, Situ x-ray diffraction, Physical vapor deposition process, Nanoindentation experiments, Magnetron co-sputtering, Energy dispersive X ray spectroscopy, Zirconium, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: hal-01808066; https://hal.science/hal-01808066
Authors: Lepinay, Kevin
Contributors: Matériaux, ingénierie et science Villeurbanne (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INSA de Lyon, Thierry Epicier
Superior Title: https://theses.hal.science/tel-01127470 ; Matériaux. INSA de Lyon, 2013. Français. ⟨NNT : 2013ISAL0124⟩.
Subject Terms: Material for electronic device, SemiConductors, Chemical tomography, Chemical mapping, STEM - Scanning transmission electron microscopy, EDX - Energy Dispersive X ray Spectroscopy, 3D Imaging, 3D Reconstruction, Sample preparation, FIB - Focused ion beam, Matériau pour l'électronique, Semiconducteur, Tomographie chimique, Cartographie chimique, MEBT - Microscopie électronique à balayage par transmission, Spectroscopie de rayon X dispersive en énergie, Imagerie 3D, Reconstruction 3D, Préparation de l'échantillon, Faisceau d'ions focalisés, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Relation: NNT: 2013ISAL0124; tel-01127470; https://theses.hal.science/tel-01127470; https://theses.hal.science/tel-01127470/document; https://theses.hal.science/tel-01127470/file/2013ISAL0124.pdf
Availability:
https://theses.hal.science/tel-01127470
https://theses.hal.science/tel-01127470/document
https://theses.hal.science/tel-01127470/file/2013ISAL0124.pdf