Authors: Ettouri, Rim, Tillocher, Thomas, Lefaucheux, Philippe, Boutaud, Bertrand, Fernandez, Vincent, Fairley, Neal, Cardinaud, Christophe, Girard, Aurélie, Dussart, Rémi
Contributors: Groupe de recherches sur l'énergétique des milieux ionisés (GREMI), Université d'Orléans (UO)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), MISTIC SAS, Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Casa Software Ltd
Superior Title: ISSN: 0142-2421.
Subject Terms: Titanium, X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Scanning Electron Microscopy (SEM), Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS), imaging, X-ray Photoelectron Spectroscopy Imaging (XPSI), [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], [SPI.PLASMA]Engineering Sciences [physics]/Plasmas
Relation: hal-03434304; https://hal.science/hal-03434304; https://hal.science/hal-03434304/document; https://hal.science/hal-03434304/file/article.pdf
